Easy-to-Use EM-IR Flow Enables Full-Chip Verification

Cadence Voltus-XFi Custom Power Integrity Solutionは、ファウンドリにサポートされているSPICEレベルの精度のパワー・インテグリティ・サインオフを実現するトランジスタ・レベルのエレクトロマイグレーションおよびIRドロップ(EM-IR)ツールです。

EM-IRでは、複雑なEMルールから大規模RCネットワークの電流の高いシミュレーション・コストまでのトランジスタ・レベルの独自の課題が存在します。Cadence Spectre X SPICE SimulatorおよびVirtuoso Design Platformとの統合により実現されたVoltus-XFiソリューションは、パワー・サインオフ解析と要件を満たすことを加速します。

積極的な市場投入までの時間の目的を達成するための生産性

精度、包括的な解析

FinFETやFD-SOFノードのEMルールおよびIRドロップの精度に関するファウンドリ・イネーブルメント

生産性の向上

統合されたEM-IRフローによる簡単かつ高速な完全な解析とデバッグの実現

パフォーマンスの最適化

独自の電圧ベース手法により、少ないメモリー消費とダイレクト・メソッドよりも高速な実行の実現

Cadence Ecosystemとの統合

フル・チップをサポートする機能を利用するための、ケイデンスのVoltus IC Power Integrity Solutionとの統合

機能

EM-IRフローのセントラル・コックピット

抽出、シミュレーション、解析、デバッグを1つのコックピットから実行するワークフロー

最小のチューニングでクラス最高の使用法

簡単なオプション設定で、精度とパフォーマンスのトレードオフを調整

包括的なデバッグ・オプション

EM-IR Results Browserでは、EM-IRの情報が表示され、違反をハイライトでき、簡単にエラーの修正が可能

フル・チップ対応

解析したトランジスタ・ブロック/IPのパワー・グリッド・ビュー(PGV)マクロ・モデルを作成し、フル・チップ・サインオフを実行するために、Voltus IC Power Integrity Solutionにそのモデルを受け渡すことが可能