Legato Reliability Solution

Key Benefits

アナログ故障シミュレーションにより製造テストのカバレッジを向上
高度な経年劣化解析によりデバイスの動作寿命予測精度を改善
ダイナミック電熱シミュレーションにより動作中の熱によるオーバーストレスを予防
アナログ故障シミュレーションをSpectre AMS Designerに統合してミックスシグナル設計のシミュレーションを実現
VirtuosoカスタムIC設計プラットフォームとSpectre Accelerated Parallel Simulator（APS）をベースとし、迅速かつ簡単に導入

アナログIC設計で一番困難な課題は、自動車、医学、工業、軍事/航空宇宙などのアプリケーションのミッションクリティカルなデバイスの動作寿命や信頼性を、あらゆる動作条件や環境で向上させる必要性が高まっている点です。確実なソリューションでこれらの設計上の課題を解決しないと、不具合のコストは増大し致命的になる可能性があります。

Cadence^® Legato^™Reliability Solutionは、クラス最高のVirtuoso^®とSpectre^®技術を組み合わせることで設計上の障害を克服し、アナログ故障、デバイスの経年劣化、エレクトロマイグレーション、プロセス変動、熱およびパッケージングの影響に起因する不具合を回避します。本ソリューションは、以下の点を確実に確保するための設計手法を提供します。

故障を検出するシミュレーション・ツールと、セーフティ機構の故障からの復帰の解析に基づく安全性
デバイス内部ストレスと環境ストレスによるデバイス経年変化の高精度な予測が可能な劣化モデルに基づく信頼性
自動欠陥検出テストとSpectre^® Circuit Simulation Platformによる結果解析に基づく0 DPPMを目標とした品質

設計が複雑になると課題も増大します。Legato Reliabilityソリューションは、以下の手段により設計者が実用時の故障を回避し、お客様がISO 26262認証を取得するのを支援します。

アナログ欠陥解析：テストのコスト削減、テスト漏れの削減が目的
電熱解析：熱によるオーバーストレス、早期故障の防止が目的
高度な経年解析：製品劣化の正確な予測が目的

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Learn how Legato Reliability Solutions technologies for analog defect analysis, advanced aging analysis, and electro-thermal simulation can help you meet the challenges of designing for mission-critical applications.